接觸電阻測(cè)試介紹

接觸電阻測(cè)試是指在兩個(gè)導(dǎo)電面接觸狀態(tài)下，通過(guò)電量測(cè)試和電阻測(cè)試，來(lái)測(cè)量接觸質(zhì)量的一種測(cè)試方法。此項(xiàng)測(cè)試在電子元器件、電氣設(shè)備、機(jī)械設(shè)備、汽車(chē)工業(yè)、航空航天、鐵路交通、通訊設(shè)備等多個(gè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用。

測(cè)試項(xiàng)目

接觸電阻測(cè)試通常包括以下項(xiàng)目：

初始電阻測(cè)量 接觸電阻測(cè)量 壓降測(cè)量 測(cè)試條件

接觸電阻測(cè)試需要一定的測(cè)試環(huán)境和條件：

測(cè)試環(huán)境溫度應(yīng)在5-35℃之間 相對(duì)濕度不應(yīng)超過(guò)80% 測(cè)試電壓、電流、頻率等參數(shù)需依據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品需求進(jìn)行設(shè)置 國(guó)內(nèi)外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

接觸電阻測(cè)試的****有：EN 50377-1:2016、IEC :2018等。國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)主要有：GB/T 、GB 4706.1-2005等。

樣品要求

樣品要求依據(jù)不同測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)存在差異，一般應(yīng)滿(mǎn)足以下要求：

樣品應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書(shū)要求 樣品應(yīng)為新產(chǎn)品或新接觸表面 樣品表面不應(yīng)有污染、氧化、腐蝕和劃痕等缺陷 測(cè)試流程

接觸電阻測(cè)試主要流程如下：

準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備和樣品，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置測(cè)試參數(shù) 對(duì)初始電阻、接觸電阻、壓降進(jìn)行測(cè)量 記錄測(cè)試結(jié)果和數(shù)據(jù) 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判定測(cè)量結(jié)果是否合格 出具測(cè)試報(bào)告 測(cè)試報(bào)告

測(cè)試報(bào)告中應(yīng)包含以下內(nèi)容：

測(cè)試樣品信息 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法 測(cè)試結(jié)果及分析 簽署和蓋章 如何申請(qǐng)

如需進(jìn)行接觸電阻測(cè)試，需要選擇一家合格的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，提供樣品和測(cè)試需求，根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和項(xiàng)目報(bào)價(jià)后，確認(rèn)測(cè)試合同，完成測(cè)試流程即可獲得測(cè)試報(bào)告。