| 德祥儀器： | 東莞 |
| 溫度范圍： | -20-40-60-70～＋150℃ |
| 溫度均勻度： | ±1.0℃ |
| 單價(jià)： | 56900.00元/臺(tái) |
| 發(fā)貨期限： | 自買(mǎi)家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨 |
| 所在地： | 直轄市 北京 |
| 有效期至： | 長(zhǎng)期有效 |
| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-16 02:06 |
| 最后更新： | 2023-12-16 02:06 |
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高低溫試驗(yàn)測(cè)試流程：
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個(gè)小時(shí);
請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20°C以上溫度，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，通電進(jìn)行測(cè)試。
2、開(kāi)機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。
3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。
4、升溫到+90°C，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。
5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。
如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。