本方法規(guī)定了金屬材料平均晶粒的基本測量方法。由于純粹以晶粒幾何圖形為基礎(chǔ)，與金屬或合金本身無關(guān)。這些基本方法也可用來測量非金屬材料中晶粒、晶體和晶胞的平均尺寸。如果材料的組織形貌接近于某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖，可使用比較法。測定平均晶粒度常用比較法，也可用截點(diǎn)法和面積法。比較法不能用來測量單個(gè)晶粒。